晶体管测试仪校准方法？

晶体管测试仪校准方法？

晶体管测试仪的校准主要有以下几种方法:

1. 基极电流校准:

这是最常见的晶体管测试仪校准方式,主要步骤为:

(1) 选择待测晶体管的型号

(2) 将测试仪的基极分流电阻(R)调节至规格值。对于大多数晶体管而言,R为10欧姆。

(3) 将测试仪的基极电流调节至规格值(一般为10mA)。

(4) 读出测试仪显示的收集电流值是否符合规格。若不符,需要校正测试仪。

(5) 根据实际收集电流值误差量调节校正电阻,直至读数准确为止。

2. 收集电流校准:

与基极电流相反,首先设定规格的收集电流(如10mA),然后检查基极电流读数是否符合要求。

若不符,调节校正电阻即可。

3. 逆向电压校准:

方法是为测试仪提供数值已知的逆向电压(如2V),然后读取测试仪显示的电压值。若有误差,调节相应的校正电位再测量。重复此过程直至电压读数准确。

4. 显微镜校准:

方法是将测试仪下的显微镜镜头调整到已知尺寸目标上(如1mm),然后比较测试仪显示的尺寸是否准确。若不准确则校正。

以上各种方法结合测试仪的主要电路,均可保证晶体管测试仪的高精度。

一般情况下,基极电流和收集电流是最常见且必要的校准项目。其它项目可选根据测试仪功能来决定。

希望提供的信息能帮助您更好地了解和操作晶体管测试仪。如果还有疑问,欢迎继续提问。